Jumat, 17 September 2021
DEPAN CARI BUKU ARTIKEL BANTUAN PENULIS KONTAK

» PROFIL PENULIS
» DETAIL
- unduh naskah PDF
- unduh naskah asli
- versi cetak
- sejarah versi
- kirim ke teman
- forum pembaca
» STATISTIK
- versi : 1
- naskah PDF : 7.870 KB
- naskah asli : 0 KB
- akses : 411 kali
- cetak : 22 kali
- unduh : 158 kali
- kirim : 0 kali
- forum : 0 pesan
» ARSIP BUKU-e

Judul : Catatan Kuliah: Analisis Pola Difraksi Sinar-X dengan Metode Rietveld Menggunakan Rietica
Penulis : Yuant Tiandho
Keterangan : bidang - material untuk jenjang lanjut
bahasa - Indonesia
tebal - 62 halaman
tahun - 2016
Situs alternatif : http://yuanttiandho.blogspot.co.id/2016/06/ebook-catatan-kuliah-analisis-pola.html
Berbagi : Facebook | Twitter

Deskripsi singkat :

    Analisis difraksi sinar-x merupakan suatu metode yang banyak diterapkan dalam analisis material. Salah satu metode analisis yang dapat diterapkan untuk analisis data difraksi sinar-x adalah metode Rietveld. Dalam buku ini dibahas tentang dasar-dasar metode Rietveld dan penerapan praktisnya berdasarkan software Rietica. Melalui Rietica dapat dilakukan analisis baik secara kualitatif maupun kuantitif.
  Dikelola oleh PDII LIPI Hak Cipta © 2007-2021 LIPI